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絕緣材料測(cè)試儀器

高阻計(jì) 擊穿電壓測(cè)定儀表面體積電阻率測(cè)試儀耐電弧測(cè)試儀高壓/漏電起痕試驗(yàn)儀低壓/漏電起痕試驗(yàn)儀導(dǎo)電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀高溫直流測(cè)試系統(tǒng)

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FDS 2000半導(dǎo)體封裝材料絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)/測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-09-05

型號(hào)：FDS 2000

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半導(dǎo)體封裝材料絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)/測(cè)試儀，是基于電介質(zhì)介電響應(yīng)理論，集介電響應(yīng)測(cè)試與絕緣狀態(tài)評(píng)估及診斷一體的綜合絕緣分析系統(tǒng)。是我們?nèi)A測(cè)公司的優(yōu)質(zhì)儀器，售后好價(jià)格優(yōu)請(qǐng)您放心的選購(gòu)。
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FDS 2000半導(dǎo)體封裝材料絕緣診斷分析儀/測(cè)試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-09-05

型號(hào)：FDS 2000

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半導(dǎo)體封裝材料絕緣診斷分析儀/測(cè)試系統(tǒng)，是基于電介質(zhì)介電響應(yīng)理論，集介電響應(yīng)測(cè)試與絕緣狀態(tài)評(píng)估及診斷一體的綜合絕緣分析系統(tǒng)。該儀器的測(cè)試頻率范圍為1mHz-1kHz，且在低頻范圍內(nèi)可以選用快速測(cè)試方式，在保證測(cè)試精度的前提下，大幅減少實(shí)驗(yàn)室測(cè)量時(shí)的等待時(shí)間及現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量的停電時(shí)間。
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HCLD-III觸摸屏高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-07-15

型號(hào)：HCLD-III

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觸摸屏高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測(cè)試儀器產(chǎn)品簡(jiǎn)介，HCDH-200漏電起痕試驗(yàn)儀適用于照明設(shè)備、低壓電器、家用電器、機(jī)床電器、電機(jī)、電動(dòng)工具、電子儀器、電工儀表、信息技術(shù)設(shè)備的研究、生產(chǎn)和質(zhì)檢部門(mén)，也適用于絕緣材料、工程塑料、電氣連接件、輔件行業(yè)。，也適用于電氣能力驗(yàn)證計(jì)劃與技術(shù)研討會(huì)中的有關(guān)CHEARI-PT003耐電痕化指數(shù)測(cè)試。
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Huace-300高阻計(jì) /可測(cè)高電阻微電流

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型號(hào)：HCDJC-50KV

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華測(cè)儀器Huace-991防靜電電阻率測(cè)試設(shè)備

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華測(cè)儀器Huace-991防靜電電阻率測(cè)試設(shè)備在測(cè)量導(dǎo)電材料電阻率若采用三電極或二電極測(cè)量時(shí)會(huì)因?yàn)殡姌O與被測(cè)量材料表面電阻而影響測(cè)量準(zhǔn)確性，本裝置采用四電極（四點(diǎn)探針或四探針）法測(cè)量導(dǎo)電和防靜電材料體積電阻率，可以克服表面接觸電阻造成的誤差影響。
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Huace-300高阻計(jì) 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法

更新時(shí)間：2025-05-29

型號(hào)：Huace-300

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Huace-300高阻計(jì) 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。測(cè)量精度達(dá)到3‰。同時(shí)儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點(diǎn)。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量程從0.01×104Ω ～1×1018Ω，是目前國(guó)內(nèi)測(cè)量范圍較寬，準(zhǔn)確度最高的數(shù)顯式絕緣材料電阻率測(cè)量?jī)x器。
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