華測試驗儀器有限公司靜電放電發(fā)生器簡單說明

靜電放電（即ESD）是大家熟知的電磁兼容問題，它可引起電子設備失靈或使其損壞。對靜電放電敏感的元件被稱為靜電放電敏感元件（ESDS）。

　　如果一個元件的兩個針腳或多針腳之間的電壓超過元件介質(zhì)的擊穿強度，就會對元件造成損壞。這是MOS器件出現(xiàn)故障zui主要的原因。氧化層越薄，則元件對靜電放電的敏感性也越大。故障通常表現(xiàn)為元件本身對電源有一定阻值的短路現(xiàn)象。對于雙極性元件，損壞一般發(fā)生在薄氧化層隔開的已進行金屬噴鍍的有源半導體區(qū)域，因此會產(chǎn)生泄漏嚴重的路徑。

　　另一種故障是由于節(jié)點的溫度超過半導體硅的熔點（1415℃）時所引起的。靜電放電脈沖的能量可以產(chǎn)生局部地方發(fā)熱，因此出現(xiàn)這種機理的故障。即使電壓低于介質(zhì)的擊穿電壓，也會發(fā)生這種故障。一個典型的例子是，NPN型三極管發(fā)射極與基極間的擊穿會使電流增益急劇降低。

　　器件受到靜電放電的影響后，也可能不立即出現(xiàn)功能性的損壞。這些受到潛在損壞的元件通常被稱為“跛腳”，一旦加以使用，將會對以后發(fā)生的靜電放電或傳導性瞬態(tài)表現(xiàn)出大的敏感性。

　　人體有感覺的靜電放電電壓在3000 — 5000V之間，然而，元件發(fā)生損壞時的電壓僅幾百伏。

　　由于新技術的發(fā)展導致元件對靜電放電的損壞越來越敏感。靜電放電造成的損失每年可達到幾百萬美元以上。因此，許多大型的元件和設備制造廠引進專業(yè)技術以減小生產(chǎn)環(huán)境中的靜電積累，以提高產(chǎn)品合格率和可靠性。

    靜電放電發(fā)生器就是基于此而設計產(chǎn)生的。